在 2014 年匹茲堡分析化學及實驗展上( Pittcon2014 )，德州儀器( TI ) ( NASDAQ: TXN )推出首款為支持近紅外線( NIR )的使用而優化的 DLP 晶片組 DLP4500NIR ，和相對應的 DLP NIRscan TM評估模組，這組新產品的推出表示德州儀器備受肯定的 MEMS 技術已跨足到光譜透射和反射領域以及其他市場。透過運用 DLP 技術，應用在食品、製藥、石油和天然氣以及新興產業的光譜儀，能夠在現場和生產線上提供相當於實驗室品質的效能表現。
Ibsen Photonics 總裁暨執行長 Henrik Skov Andersen 表示，「把 DLP 技術應用到我們 OEM 的光譜儀系列產品中，是對傳統光譜分析的一次革命。透過 DLP 技術，我們最新的、可編程的緊湊型多色儀可允許先選擇多個波長的色散，在可見光與近紅外線( VIS-NIR )範圍中使用經濟的寬頻偵測器實現高速穿透或吸收檢測。這一特性能使客戶產生動態測量方法與算法，為各種關鍵應用提高速度與精準度，並保護樣本免於不必要的照射。」
德州儀器 DLP 嵌入式產品事業部經理 Mariquita Gordon 表示，「我們持續突破 DLP 技術的極限，開創其在先進科學、工業、以及醫療解決方案中的應用。透過採用全新的近紅外線 DLP 晶片組，光譜儀器設計者能開發出全新的行動設備，將在實驗室中才能實現的靈敏度和精確度應用於現場，並同時降低整體系統成本。」
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